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SJ/T 2354-2015《PIN、雪崩光电二极管测试方法》

SJ/T 2354-2015 更新时间: 2024-08-25

标准详情

SJ/T 2354-2015《PIN、雪崩光电二极管测试方法》基本信息

标准号:SJ/T 2354-2015

中文名称:《PIN、雪崩光电二极管测试方法》

发布日期:2015-04-30

实施日期:2015-10-01

发布部门:中华人民共和国工业和信息化部

SJ/T 2354-2015《PIN、雪崩光电二极管测试方法》介绍

中华人民共和国工业和信息化部于2015年4月30日发布了SJ/T 2354-2015《PIN、雪崩光电二极管测试方法》标准,并自2015年10月1日起实施。

一、标准适用范围

SJ/T 2354-2015标准主要适用于PIN型光电二极管和雪崩光电二极管的测试。这两种光电二极管在高速光通信、光纤传感、光电测量等领域具有重要应用。标准对这两种光电二极管的性能参数、测试条件、测试方法等进行了详细的规定,确保测试结果的一致性和可靠性。

二、性能参数定义

1、光谱响应:光电二极管对不同波长的光信号的响应能力。

2、量子效率:光电二极管将吸收的光能转换为电能的效率。

3、暗电流:在无光照条件下,光电二极管产生的电流。

4、饱和电流:光电二极管在最大光照强度下产生的电流。

5、响应时间:光电二极管从无光照到达到饱和电流所需的时间。

6、噪声等效功率:光电二极管在单位带宽内的噪声功率。

三、测试条件

1、温度:测试应在规定的温度范围内进行,消除温度对测试结果的影响。

2、湿度:测试应在规定的湿度范围内进行,避免湿度对光电二极管性能的影响。

3、光照强度:测试应在规定的光照强度下进行,模拟实际应用环境。

4、测试设备:使用符合标准的测试设备进行测试,保证测试结果的准确性。

四、测试方法

1、光谱响应测试:使用标准光源,按照规定的波长范围进行测试。

2、量子效率测试:通过测量光电二极管的光谱响应和光电流,计算量子效率。

3、暗电流测试:在无光照条件下,测量光电二极管的暗电流。

4、饱和电流测试:在最大光照强度下,测量光电二极管的饱和电流。

5、响应时间测试:测量光电二极管从无光照到达到饱和电流所需的时间。

6、噪声等效功率测试:在规定的条件下,测量光电二极管的噪声等效功率。

五、测试结果分析

1、数据处理:对测试数据进行必要的数学处理,如平均值、标准差等。

2、结果评估:根据测试结果,评估光电二极管的性能指标是否满足设计要求。

3、异常分析:对测试过程中出现的异常情况进行分析,找出原因并采取相应措施。

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